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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱(chēng)：
半導(dǎo)體封裝材料I-V測(cè)試平臺(tái)/探針臺(tái)
產(chǎn)品型號(hào)：
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
所在地：北京市
更新日期：2025-03-12
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
半導(dǎo)體封裝材料I-V測(cè)試平臺(tái)/探針臺(tái)，通過(guò)杠桿式支架，使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針，而且點(diǎn)針力度大，和樣品的電接觸性較好。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測(cè) |
|---|
半導(dǎo)體封裝材料I-V測(cè)試平臺(tái)/探針臺(tái)
一款溫度范圍-190℃-600℃的探針臺(tái)。使用時(shí)還可對(duì)樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn)，又可以防止樣品發(fā)生氧化。此款通過(guò)杠桿式支架，使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針，而且點(diǎn)針力度大，和樣品的電接觸性較好。
| 項(xiàng)目 | 類(lèi)別 | 參數(shù) |
| 溫控參數(shù) | 溫度范圍 | 負(fù)190℃-600℃（負(fù)溫需配液氮制冷系統(tǒng)） |
| 傳感器/溫控方式 | 100Ω鉑RTD/PID控制（含LVDC降噪電源） | |
| 大加熱/制冷速度 | +80℃/min(100℃時(shí))，-50℃/min（100℃時(shí)） | |
| 小加熱/制冷速度 | ±0.01℃/min | |
| 溫度穩(wěn)定性 | ±0.05℃（＞25℃），±0.1℃（＜25℃） | |
| 軟件功能 | 可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線(xiàn) | |
| 電學(xué)參數(shù) | 探針 | 默認(rèn)為錸鎢材質(zhì)的彎針探針 可選其他種類(lèi)探針 |
| 探針座 | 杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度更大，電接觸性更好 | |
| 點(diǎn)針 | 手動(dòng)點(diǎn)針，每個(gè)探針座都可點(diǎn)到樣品區(qū)上位置 | |
| 探針接口 | 默認(rèn)BNC接頭（可選三同軸）可增設(shè)腔內(nèi)接線(xiàn)柱（樣品接電引線(xiàn)） | |
| 臺(tái)面電位 | 默認(rèn)為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口 | |
| 結(jié)構(gòu)參數(shù) | 加熱區(qū)/樣品區(qū) | 28mm X 30mm |
| 樣品腔高 | 6.3MM 樣品大厚度由探針決定 | |
| 放樣 | 打開(kāi)上蓋后置入樣品再點(diǎn)針，關(guān)上蓋后無(wú)法移動(dòng)探針 | |
| 氣氛控制 | 氣密腔，可充入保護(hù)氣體 *另有真空腔型號(hào) | |
| 外殼冷卻 | 可通循環(huán)水，以維持外殼溫度在常溫附近 | |
| 臺(tái)體尺寸/重量 | 180mm X 130mm X26mm /1500g | |
| 配置列表 | 基本配置 | 溫控探針臺(tái)、mK200B溫控器、外殼循環(huán)水冷系統(tǒng) |
| 可選配件 | 測(cè)試源表、真空系統(tǒng)（僅用于真空型號(hào)）、三同軸BNC接口、臺(tái)面電懸空、樣品接電引線(xiàn) |
二、功能特點(diǎn)
* 可編程精密控溫?？煽刂疲部蓮纳衔粰C(jī)軟件控制
* 探針需開(kāi)蓋移動(dòng)，樣品臺(tái)面電接地
* 探針，分別導(dǎo)通冷熱臺(tái)外殼上的4個(gè)BNC接口
* 杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度大，電接觸性較好
* 彎針探針，點(diǎn)針精準(zhǔn)
* 默認(rèn)氣密腔室，通問(wèn)2個(gè)快速自鎖接頭，可充保護(hù)氣體
* 上蓋帶有樣品觀(guān)察窗
* 臺(tái)體內(nèi)置干燥氣體管道，用于負(fù)溫時(shí)對(duì)視窗的除霜
* 視窗可拆卸與更換，可用不同材質(zhì)窗片實(shí)現(xiàn)不同波段光觀(guān)察
* 軟件可拓展性強(qiáng)，可提供LabView等語(yǔ)言的SDK
三、可定制更多測(cè)試功能
* 介電溫譜測(cè)試
* 四探針電阻率測(cè)試
* 絕緣電阻測(cè)試
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